Ocena zdolności systemu pomiarowego – rozdzielczość
| ID: | 336 |
| Autor: | Jan Rewilak |
| Rodzaj obiektu: | artykuł |
| Abstrakt: |
 Wśród wymagań odnoszących się do zdolności systemów pomiarowych znajdują się także wymagania dotyczące rozdzielczości („d”). Z doświadczeń autora artykułu wynika, iż jest to często niedoceniany w praktyce parametr metrologiczny przyrządu pomiarowego, decydujący o możliwości jego zastosowania do danego zadania pomiarowego. Bez stwierdzenia, czy rozdzielczość przyrządu pomiarowego jest wystarczająca nie warto wykonywać badania jego zdolności metodą typu I (Cg, Cgk), typu II lub typu III (R&R). |
| Ocena: | 5.0 |
| Wartość: | 60 pkt. |
| Język: | polski |
