|
Wartość:
20 pkt.
Autor:
Katarzyna Bobek
Data publikacji: 02-07-2008
Ocena:
aktualnie brak ocen
|
| Detektor jest elementem chromatografu rejestrującym skład wypływającego z kolumny gazu nośnego i pozwalający na jego analizę jakościową i ilościową. Detektory dzielimy na różniczkowe i całkowe, uniwersalne i selektywne, niedestrukcyjne i destrukcyjne. Powinny one spełniać szereg wymogów m.in.: powinny mieć dużą czułość i liniowość sygnału, linię podstawową stabilną, szumy własne jak najmniejsze, nie mogą wchodzić w reakcje z rozdzielanymi związkami. Parametry cechujące detektor to czułość, granica wykrywalności, liniowość, zakres dynamiczny. Znanych jest wiele detektorów, na początek zapoznamy się z detektorem FID. więcej | |
|
Wartość:
20 pkt.
Autor:
Katarzyna Bobek
Data publikacji: 02-07-2008
Ocena:
aktualnie brak ocen
|
| W tym artykule zaznajomimy się z dwoma detektorami: detektorem wychwytu elektronów i spektrometrem masowym. więcej | |
|
Wartość:
40 pkt.
Autor:
S. Borkowski R.S.B.
Data publikacji: 07-10-2008
Ocena:
4.5
|
|
Nowe trendy w zakresie obróbki skrawaniem stawiają najwyższe wymagania w stosunku do narzędzi skrawających i materiałów na ich ostrza. Jednocześnie są coraz częściej stosowane technologie o specjalnych wymaganiach. W celu oceny poziomu jakości procesu produkcyjnego stempla formującego kołek rozporowy wykorzystano karty kontrolne X -R. Karta kontrolna to dokument, na którym rejestrowane są wyniki badania próbek pobieranych systematycznie (w ustalonych odstępach czasu) z bieżącej produkcji. Karty kontrolne pomagają w wykrywaniu nienaturalnych konfiguracji zmienności w danych otrzymanych z powtarzalnych procesów i dostarczają kryteria wykrywania braku statystycznego uregulowania procesu.Stwierdzono, że nie wszystkie otrzymane wyniki pomiaru średnicy stempla mieszczą się w granicach kontrolnych karty. Świadczy to o niestabilności procesu toczenia stempla. więcej |
|
|
Wartość:
10 pkt.
Autor:
Jan Boratyński
Data publikacji: 26-09-2008
Ocena:
aktualnie brak ocen
|
Henryk Altszuller pracował kilka lat w Inspekcji Wynalazczości Kaspijskiej Floty Wojennej. Praca jego polegała na przyjmowaniu i weryfikowaniu wniosków wynalazczych przed skierowaniem ich do Biura Patentowego. Stykał się więc ciągle z twórcami pomysłów wynalazczych, jak i z opisami tysięcy różnych patentów. Był to ogromny materiał prowokujący do analizy i próby znalezienia odpowiedzi na pytania:
|
|
|
Wartość:
10 pkt.
Autor:
Jan Boratyński
Data publikacji: 01-07-2008
Ocena:
aktualnie brak ocen
|
| Prawa rozwoju systemów technicznych Ciągle zbyt mało doceniana krzywa S-kształtna, powinna być podstawą analiz marketingowych w aspekcie innowacji zarówno produktu jak i organizacji produkcji oraz metod wytwarzania. Ciekawym i nieco zaniedbanych zagadnieniem jest identyfikacja krzywej S-kształtnej dla klasy wyrobu i konkretnego typu. Warto zbadać przebieg krzywej S-kształtnej dotyczący klasy np. samochodów osobowych i na tym tle konkretnego produkowanego „przez nas” modelu.Ważnym zagadnieniem są mutacje krzywej, gdy przenosimy wyrób z zakładu macierzystego do innego zakładu, np. licencjobiorcy. Zaniedbanie tej analizy doprowadziło nasz przemysł do uruchomienia produkcji maszynek do liczenia „Mesko”, gdy na świecie były one już dawno na odcinku D - E. Zakłady Mesko były wtedy w punkcie A, rozpoczynając pokonywanie trudności uruchomienia nowego (dla nich) asortymentu, podczas gdy przemysł światowy pokonywał też odcinek A - B, ale zupełnie innej krzywej - kalkulatorów elektronicznych! więcej |
|
|
Wartość:
10 pkt.
Autor:
Jan Boratyński
Data publikacji: 02-07-2008
Ocena:
aktualnie brak ocen
|
| Artykuł dotyczny kinetycznego i dynamicznego prawa rozwoju systemów technicznych. więcej | |
| 1 2 3 4 następna » |
